[Born-IT] BleedingBit-Schwachstelle in Bluetooth LE-Chips

Sicherheitsforscher haben nachgewiesen, dass verschiedene Bluetooth-Low-Energy-Chips (BLE) von Texas Instruments verwundbar sind. Sicherheitsforscher von Armis haben zwei Schwachstellen auf Chip-Ebene von Texas Instruments Bluetooth-Low-Energy-Chips (BLE) identifiziert, die sich auf Access Points und potenziell andere nicht verwaltete Geräte (medizinische Geräte etc.)




Autor: Günter Born
 
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