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Hallo zusammen!
Jetzt muss ich mich mal erdreisten und in meinem eigenen Bereich eine kleine Frage loswerden.
Es geht um ein Problem mit meiner Samsung 470 SSD (MZ5PA256, 256GB), wo ich sehr gerne in dem Fall eine zweite Meinung hätte, bevor ich weitere Schritte einleite. Bisher hatte ich nur offensichtlich defekte SSDs, aber noch keinen solchen Fall.
Als ich vor einigen Tagen ein Image von meiner SSD machen wollte, brach dd mit einem Lesefehler ab. Ein Test auf defekte Blöcke mittels [kw]badblocks -nvs /dev/sda[/kw] ergab folgende 121 defekte Blöcke:
Toll, also defekt, dachte ich mir. Backup von den wichtigsten Daten hatte ich sowieso. Da allerdings meine Daten auf der SSD nicht verschlüsselt waren (nichts "besonderes"), wollte ich diese gerne vor dem Umtauschen noch vernichten. Also einen Erase angestoßen.
Nun kommt das Problem: Beim Erase hat der Controller alle defekten Blöcke erkannt und durch neue ersetzt. Sowohl laut SMART-Werten, als auch nach badblocks-Test ist diese SSD nun wieder einwandfrei. Auch die Samsung-Software kann keinen Fehler finden und bestätigt mir die aktuellste Firmware. Der SSD-Controller hat also nun das getan, was er eigentlich schon viel früher hätte machen sollen, bevor meine Daten verloren gingen.
SMART:
Auffällig bei den SMART-Werten ist, dass bei [kw]Used_Rsvd_Blk_Cnt_Chip[/kw] bereits 776 defekte Blöcke ersetzt werden mussten. Auch sind die 269 Fehler im Logfile schon sehr viele. Diese könnten aber genauso von einem nicht-einwandfreien SATA-Kabel oder einem Mainboard-Problem verursacht worden sein. Leider sieht man ja nur die letzten fünf.
Wäre das nun eine klassische HDD, dann würde ich diese bei defekten Sektoren auf keinen Fall mehr weiterbenutzen und auf jeden Fall tauschen - auch wenn sie die Sektoren ersetzt hat. Auch dieser SSD würde ich jetzt gerade nur unter großen Bauchschmerzen weitere Daten anvertrauen. Augenscheinlich scheint sie aber nun wieder absolut in Ordnung zu sein und könnte vielleicht auch die nächsten 5 Jahre einwandfrei laufen.
Mein Händler lehnt einen Umtausch/Gewährleistung ab. Von Samsung habe ich aber 3 Jahre Garantie und könnte die SSD zu denen einschicken und überprüfen lassen. Die große Frage ist eigentlich nun: Was passiert wenn ich eine augenscheinlich gute SSD einschicke? Wie wird diese SSD voraussichtlich bei Samsung getestet? Habe ich dort realistische Erfolgschancen?
Vielleicht hatte ja jemand von euch schon einmal genau diesen Fall.
Grüße
Thomas
Jetzt muss ich mich mal erdreisten und in meinem eigenen Bereich eine kleine Frage loswerden.
Es geht um ein Problem mit meiner Samsung 470 SSD (MZ5PA256, 256GB), wo ich sehr gerne in dem Fall eine zweite Meinung hätte, bevor ich weitere Schritte einleite. Bisher hatte ich nur offensichtlich defekte SSDs, aber noch keinen solchen Fall.
Als ich vor einigen Tagen ein Image von meiner SSD machen wollte, brach dd mit einem Lesefehler ab. Ein Test auf defekte Blöcke mittels [kw]badblocks -nvs /dev/sda[/kw] ergab folgende 121 defekte Blöcke:
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Toll, also defekt, dachte ich mir. Backup von den wichtigsten Daten hatte ich sowieso. Da allerdings meine Daten auf der SSD nicht verschlüsselt waren (nichts "besonderes"), wollte ich diese gerne vor dem Umtauschen noch vernichten. Also einen Erase angestoßen.
Nun kommt das Problem: Beim Erase hat der Controller alle defekten Blöcke erkannt und durch neue ersetzt. Sowohl laut SMART-Werten, als auch nach badblocks-Test ist diese SSD nun wieder einwandfrei. Auch die Samsung-Software kann keinen Fehler finden und bestätigt mir die aktuellste Firmware. Der SSD-Controller hat also nun das getan, was er eigentlich schon viel früher hätte machen sollen, bevor meine Daten verloren gingen.
SMART:
Code:
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.14-1-amd64] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Samsung based SSDs
Device Model: SAMSUNG 470 Series SSD
Serial Number: ███████████████
Firmware Version: AXM09B1Q
User Capacity: 256.060.514.304 bytes [256 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: Solid State Device
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ATA8-ACS, ATA/ATAPI-7 T13/1532D revision 1
SATA Version is: SATA 2.6, 3.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s)
Local Time is: Wed May 28 21:07:22 2014 CEST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 1680) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 28) minutes.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
9 Power_On_Hours 0x0032 099 099 --- Old_age Always - 2622
12 Power_Cycle_Count 0x0032 098 098 --- Old_age Always - 1460
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 099 099 --- Pre-fail Always - 3
[COLOR="#FF0000"]178 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Chip 0x0013 080 080 --- Pre-fail Always - 776[/COLOR]
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0022 072 055 --- Old_age Always - 28
235 POR_Recovery_Count 0x0012 099 099 --- Old_age Always - 166
SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 269 (device log contains only the most recent five errors)
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 269 occurred at disk power-on lifetime: 2566 hours (106 days + 22 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was sleeping.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 04 4c e6 6d ed
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
ec 00 01 00 00 00 00 00 02:08:00.000 IDENTIFY DEVICE
ef 03 46 00 00 00 00 00 02:08:00.000 SET FEATURES [Set transfer mode]
ec 00 01 00 00 00 00 00 02:08:00.000 IDENTIFY DEVICE
c8 00 08 48 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
Error 268 occurred at disk power-on lifetime: 2566 hours (106 days + 22 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was sleeping.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 04 4c e6 6d ed
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
ec 00 01 00 00 00 00 00 02:08:00.000 IDENTIFY DEVICE
ef 03 46 00 00 00 00 00 02:08:00.000 SET FEATURES [Set transfer mode]
ec 00 01 00 00 00 00 00 02:08:00.000 IDENTIFY DEVICE
c8 00 08 48 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
Error 267 occurred at disk power-on lifetime: 2566 hours (106 days + 22 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was sleeping.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 04 4c e6 6d ed
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
ec 00 01 00 00 00 00 00 02:08:00.000 IDENTIFY DEVICE
ef 03 46 00 00 00 00 00 02:08:00.000 SET FEATURES [Set transfer mode]
ec 00 01 00 00 00 00 00 02:08:00.000 IDENTIFY DEVICE
c8 00 08 48 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
Error 266 occurred at disk power-on lifetime: 2566 hours (106 days + 22 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was sleeping.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 04 4c e6 6d ed Error: UNC 4 sectors at LBA = 0x0d6de64c = 225306188
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
c8 00 08 40 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
c8 00 08 38 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
c8 00 08 30 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
c8 00 08 28 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
c8 00 08 20 e6 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
Error 265 occurred at disk power-on lifetime: 2566 hours (106 days + 22 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was sleeping.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
40 51 34 4c e6 6d ed Error: WP at LBA = 0x0d6de64c = 225306188
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
ca 00 80 80 e5 6d 0d 00 02:08:00.000 WRITE DMA
c8 00 80 80 e5 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
ca 00 80 80 e5 6d 0d 00 02:08:00.000 WRITE DMA
c8 00 80 80 e5 6d 0d 00 02:08:00.000 READ DMA
ca 00 80 00 e5 6d 0d 00 02:08:00.000 WRITE DMA
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Auffällig bei den SMART-Werten ist, dass bei [kw]Used_Rsvd_Blk_Cnt_Chip[/kw] bereits 776 defekte Blöcke ersetzt werden mussten. Auch sind die 269 Fehler im Logfile schon sehr viele. Diese könnten aber genauso von einem nicht-einwandfreien SATA-Kabel oder einem Mainboard-Problem verursacht worden sein. Leider sieht man ja nur die letzten fünf.
Wäre das nun eine klassische HDD, dann würde ich diese bei defekten Sektoren auf keinen Fall mehr weiterbenutzen und auf jeden Fall tauschen - auch wenn sie die Sektoren ersetzt hat. Auch dieser SSD würde ich jetzt gerade nur unter großen Bauchschmerzen weitere Daten anvertrauen. Augenscheinlich scheint sie aber nun wieder absolut in Ordnung zu sein und könnte vielleicht auch die nächsten 5 Jahre einwandfrei laufen.
Mein Händler lehnt einen Umtausch/Gewährleistung ab. Von Samsung habe ich aber 3 Jahre Garantie und könnte die SSD zu denen einschicken und überprüfen lassen. Die große Frage ist eigentlich nun: Was passiert wenn ich eine augenscheinlich gute SSD einschicke? Wie wird diese SSD voraussichtlich bei Samsung getestet? Habe ich dort realistische Erfolgschancen?
Vielleicht hatte ja jemand von euch schon einmal genau diesen Fall.
Grüße
Thomas